TSB-22液態式冷熱衝擊裝置 (容量2.1L)
TSB熱衝擊腔的製造符合Mil-Std883方法1011.9的苛刻測試要求,ESPEC引領業界開發具有多種機制的精密測試室,以顯著減少流體用量。新的TSB-52在每個測試循環中僅損失1.4克,或者在每1,000個循環測試中減少一升液體。回收系統通過提高氣密性來減少流體損失,防止蒸發的導熱液從測試區域洩漏。風扇將空氣吸入冷凝盤管,該盤管將蒸發後的液體轉變為液體,然後將其返回至槽中。這些單元還包括用於從導熱液中去除水的分離過濾器。熱浴頂部的冷凍冷卻環有助於限制蒸發損失。
1.減少流體損失的多種機制
a.浴缸入口處的自動百葉窗
b.高溫浴槽頂部邊緣的冷凝管
c.轉運區的蒸氣回收裝置
2.專為單流體(Galden)和雙流體(Fluorinert)使用
3.位置便利,僅需連接電源
4.低噪音僅65dBa
5.新增:USB和以太網接口包括標準配置
6.人性化的觸摸屏操作,帶9英寸大彩色顯示屏
7.存儲40個兩區測試程序
8.程序可以寫在PC上並通過USB上傳
9.趨勢圖顯示顯示設定點和實際值的記錄
10.操作數據可以根據需要下載,也可以連續下載到USB
11.兩個時間信號繼電器,用於自動控制測試設備/樣品的開/關
12.系統警報存儲在內存中以進行歷史回顧
13.內置的計時器功能允許腔室自動啟動或關閉
14.PatternManagerLitePC軟件,用於程序編輯和數據記錄查看/導出,以支持USB功能
15.以太網接口,用於遠程監控和操作控制以及數據下載
16.測試標準符合性
a.IEC60068-2-14Nc個-溫度的急速變化,雙流體浴法
b.MIL-STD-883J方法1011.9-軍用標準,試驗方法微電路熱衝擊
c.MIL-STD-202的方法107-軍事標準,試驗方法為電子和電氣部件的熱衝擊
d.JESD22-A106B-熱衝擊
e.IEC60749-11-半導體器件,機械和氣候試驗方法第11部分:溫度的急速變化,兩流體浴法
f.EIAJED-307分之4701-環境和耐久性試驗方法用於半導體器件的熱衝擊
內部容積 |
2.1升 |
內部尺寸(寬x深x高) |
120 x 120 x 150毫米 |
溫度範圍 |
-65至200°C -85至392°F |
測試性能示例 |
測試:Mil-Std 883 1011.9 |
功率 |
208伏 |
最大聲級(1米遠) |
65分貝 |
溫度波動(在控制傳感器處) |
±2°攝氏度 |
紀錄 |
需要Galden或Fluorinert流體 |