PS800C顆粒掃描儀
使用OCS顆粒掃描儀(PS800C),可以使用兩個單獨的色線掃描相機(檢查顆粒流的正反面)自由落體分析高度透明和不透明的顆粒。該系統可檢測出與產品顏色有偏差的雜質。PS800C的另一個功能是多道擋板系統,可將受污染的顆粒分類。還可以確定母料濃度。進一步的優勢是將實時結果數據傳輸到生產和過程控制,以及通過分選污染的顆粒來改進產品。
1.兩台高性能色線掃描相機
2.污染尺寸為50μm
3.取決於顆粒性質,最高可達到1,000 kg / h的高速吞吐率
4.專為檢測高透明顆粒中的雜質而開發
5.實時結果可視化
6.多軌襟翼系統,用於分類受污染的顆粒
7.可測試的原材料
a.高度透明的顆粒
b.不透明顆粒
c.彩色顆粒
相機 |
兩台3CMOS彩色線掃描相機 |
解析度 |
50微米 |
燈光 |
大功率LED白光光譜 |
通訊協議 |
MODBUS(RTU,TCP / IP),PROFIBUS,PROFINET,OPC(服務器/客戶端),CSV文件,特定於客戶 |