PSSD顆粒尺寸和形狀分佈測量

借助OCS顆粒尺寸和形狀分佈系統（PSSD），可以使用線掃描相機自由落體分析所有類型的顆粒。系統根據粒料的形態特性對粒料進行分類（尺寸過大，過小，磨蝕，結塊等）。PSSD的其他特殊功能是監控造粒系統（刀具的磨損程度），確定造粒重量（使用可選的稱重系統）以及將實時結果數據傳輸到生產和過程控制中。

1.高速CMOS線掃描相機（單色）

2.污染尺寸為71μm

3.取決於粒料的性能，吞吐速率最高可達18 kg / h

4.實時結果可視化

5.可測試的原材料：所有類型的顆粒

6兼容於：OCS顆粒掃描儀（PS25C）