V-780 UV/VIS/NIR分光光譜儀

V-780：具有InGaAs探測器的UV-Vis近紅外高靈敏度和高分辨率測量模型

a.測量波長范圍：190nm〜1600nm

b.在近紅外區域使用InGaAs檢測器的高靈敏度，高分辨率模型

c.新型燈罩提高了近紅外區域的穩定性

1.可外接觸控型彩色iRM控制面板，具有樣品測量、即時圖譜顯示、資料分析及儲存等功能，並可藉由USB將資料複製至電腦上保存或分析

2.智慧型IQ Accessory & IQ Start辨識功能，可自動判斷安裝附件型號並啟動預設參數

3.軟體可完全相容在Win8.1中文版上執行

4.每日機台效能驗證程式

5.自動化數據處理

6.附件辨識系統

7.免調校之燈源安裝

8.穿透反射零點校正

9.50種以上各式樣品偵測附件

10.多工Spectra ManagerTM光譜

11.控制體或新型iRM-1000控制平板

12.軟體符合21CFR Part 11

光學系統	雙光束、單分光器
波長範圍	190 ~ 1600nm
圖譜頻寬	UV/VIS range 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, and 10 nm (標準高度) L2, L5及L10 nm (低迷光率半高寬) M1,M2 nm (微量液槽專用) NIR range 0.2, 0.4, 1, 2, 4, 10 and 20 nm (標準高度) L4, L10及L20 nm (低迷光率半高寬) M2,M4 nm (微量液槽專用)
波長準確度	±0.3nm (656.1 nm) , ±1.0nm (1312.2 nm)
波長再現性	±0.05nm(UV-Vis), ±0.1nm(NIR)
光源	氘氣燈(190 ~ 350nm)、鹵素燈(330 ~ 2700nm)
燈源切換位置	330 ~ 350 nm 可任意調整
檢知器	光電倍增管(Photomultiplier tube)
掃描速度	10, 20, 40, 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 ( 8000nm/min in preview mode)
迷光率	0.005%T (220 nm NaI, 340 nm NaNO2)
基線穩定性	±0.0003 Abs/hr.
基線平坦度	±0.0002 Abs(200 ~ 1600nm)
測定模式	Abs, %T, %R(反射率)
測定範圍	具Dark Correction 功能，可測定-4 ～ +4Abs
測定準確度	±0.0015 Abs(0 ~ 0.5 Abs) ±0.0025 Abs(0.5 ~ 1 Abs) ±0.3%T
測定再現性	±0.0005 Abs(0 ~ 0.5 Abs) ±0.0005 Abs(0.5 ~ 1 Abs)
測定感度	RMS noise 0.00003 Abs(500 nm; 60 sec; Response=medium; BW=2 nm)
波長切換速度	12000 nm/min
主機與控制電腦傳輸介面	USB
電源	110V/60Hz
主機尺寸	460(W) x 602(D) x 268(H) mm
重量	約29公斤

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