V-770 UV/VIS/NIR分光光譜儀
V-770：從UV到可見光和近紅外的寬波長范圍
a.測量波長范圍：190nm至2700nm（可選擴展到3200nm）
b.具有單個單色儀的高效明亮光學系統
1.可外接觸控型彩色iRM控制面板，具有樣品測量、即時圖譜顯示、資料分析及儲存等功能，並可藉由USB將資料複製至電腦上保存或分析
2.智慧型IQ Accessory & IQ Start辨識功能，可自動判斷安裝附件型號並啟動預設參數
3.軟體可完全相容在Win8.1中文版上執行
4.每日機台效能驗證程式
5.自動化數據處理
6.附件辨識系統
7.免調校之燈源安裝
8.穿透反射零點校正
9.50種以上各式樣品偵測附件
10.多工Spectra ManagerTM光譜
11.控制體或新型iRM-1000控制平板
12.軟體符合21CFR Part 11
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光學系統 |
雙光束、單分光器 |
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波長範圍 |
190 ~ 2700nm(可擴增至3200nm) |
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圖譜頻寬 |
UV/VIS range |
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波長準確度 |
±0.3nm (656.1 nm) , ±1.5nm (1312.2 nm) |
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波長再現性 |
±0.05nm(UV-Vis), ±0.2nm(NIR) |
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光源 |
氘氣燈(190 ~ 350nm)、鹵素燈(330 ~ 2700nm) |
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燈源切換位置 |
330 ~ 350 nm 可任意調整 |
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檢知器 |
光電倍增管(Photomultiplier tube) |
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掃描速度 |
10, 20, 40, 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 ( 8000nm/min in preview mode) |
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迷光率 |
0.005%T (220 nm NaI, 340 nm NaNO2) |
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基線穩定性 |
±0.0003 Abs/hr. |
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基線平坦度 |
±0.0002 Abs(200 ~ 2500nm)
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測定模式 |
Abs, %T, %R(反射率) |
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測定範圍 |
具Dark Correction 功能，可測定-4 ～ +4Abs |
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測定準確度 |
±0.0015 Abs(0 ~ 0.5 Abs) |
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測定再現性 |
±0.0005 Abs(0 ~ 0.5 Abs) |
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測定感度 |
RMS noise 0.00003 Abs(500 nm; 60 sec; Response=medium; BW=2 nm) |
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波長切換速度 |
12000 nm/min |
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主機與控制電腦傳輸介面 |
USB |
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電源 |
110V/60Hz |
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主機尺寸 |
460(W) x 602(D) x 268(H) mm |
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重量 |
約29公斤 |
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